Exemplaires: Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films

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Détails bibliographiques
Collectivité auteur :	Symposium on the Ellipsometer and its Use in the Measurement of Surfaces and Thin Films Washington, D.C
Autres auteurs :	Passaglia Elio (Éditeur scientifique), Stromberg Robert R. (Éditeur scientifique), Kruger Jerome (Éditeur scientifique)
Format :	Livre
Langue :	anglais
Titre complet :	Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings / @Symposium on the Ellipsometer and its Use in the Measurement of Surfaces and Thin Films
Publié :	Washington : U.S. National Bureau of Standards , 1964
Description matérielle :	vi, 359p.
Collection :	Miscellaneous publication United states Department of agriculture, Science and education administration
Sujets :	Ellipsométrie

Informations d'exemplaires de BU Sciences
‌	Cote	Prêt	Statut
Magasin n.3	535.562 ETA /10429	Empruntable	Disponible