Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Collectivité auteur : Symposium on the Ellipsometer and its Use in the Measurement of Surfaces and Thin Films Washington, D.C
Autres auteurs : Passaglia Elio (Éditeur scientifique), Stromberg Robert R. (Éditeur scientifique), Kruger Jerome (Éditeur scientifique)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings / @Symposium on the Ellipsometer and its Use in the Measurement of Surfaces and Thin Films
Publié : Washington : U.S. National Bureau of Standards , 1964
Description matérielle : vi, 359p.
Collection : Miscellaneous publication United states Department of agriculture, Science and education administration
Sujets :

BU Sciences

Informations d'exemplaires de BU Sciences
Cote Prêt Statut
Magasin n.3 535.562 ETA /10429 Empruntable Disponible