Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures

Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Holt D. B. (Auteur), Yacobi B. G. (Auteur)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures / D.B. Holt, B.G. Yacobi
Publié : Cambridge, New York : Cambridge University Press , 2007
Description matérielle : 1 vol. (XI-631 p.)
Sujets :
Semiconducteurs > Défauts
Dislocations dans les semiconducteurs
Description
Bibliographie : Références bibliogr. en fin de chapitres. Index.
ISBN : 978-0-521-81934-3
0-521-81934-2