Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures

Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Holt D. B. (Auteur), Yacobi B. G. (Auteur)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures / D.B. Holt, B.G. Yacobi
Publié : Cambridge, New York : Cambridge University Press , 2007
Description matérielle : 1 vol. (XI-631 p.)
Sujets :
Semiconducteurs > Défauts
Dislocations dans les semiconducteurs

BU Sciences

Informations d'exemplaires de BU Sciences
‌ Cote Prêt Statut
1er étage, salle 12 621.381 HOL Empruntable Disponible