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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces
Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a l...
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| Auteur principal : | |
|---|---|
| Format : | Livre |
| Langue : | anglais |
| Titre complet : | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : Application to Rough and Natural Surfaces / by Gerd Kaupp. |
| Édition : | 1st ed. 2006. |
| Publié : |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
, [20..] Cham : Springer Nature |
| Collection : | Nanoscience and technology (Internet) |
| Accès en ligne : |
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| Note sur l'URL : | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex |
| Condition d'utilisation et de reproduction : | Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales : https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |
| Contenu : | Atomic Force Microscopy. Scanning Near-Field Optical Microscopy. Nanoindentation. Nanoscratching |
| Sujets : | |
| Documents associés : | Autre format:
Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching |