Applied scanning probe methods : IV Industrial applications

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf?cient to delineate single atoms. At ?rstthere were two the ScanningTunnelingMicroscope,or STM,andtheAtomicForceMic- scope, or AFM. The...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Bhushan Bharat (Directeur de publication), Fuchs Harald (Directeur de publication)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Applied scanning probe methods. IV, Industrial applications / edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
Édition : 1st ed. 2006.
Publié : Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg , [20..]
Cham : Springer Nature
Collection : Nanoscience and technology (Internet)
Accès en ligne : Accès Nantes Université
Accès direct soit depuis les campus via le réseau ou le wifi eduroam soit à distance avec un compte @etu.univ-nantes.fr ou @univ-nantes.fr
Note sur l'URL : Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Condition d'utilisation et de reproduction : Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales : https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017
Contenu : Scanning Probe Lithography for Chemical, Biological and Engineering Applications. Nanotribological Characterization of Human Hair and Skin Using Atomic Force Microscopy (AFM). Nanofabrication with Self-Assembled Monolayers by Scanning Probe Lithography. Fabrication of Nanometer-Scale Structures by Local Oxidation Nanolithography. Template Effects of Molecular Assemblies Studied by Scanning Tunneling Microscopy (STM). Microfabricated Cantilever Array Sensors for (Bio-)Chemical Detection. Nano-Thermomechanics: Fundamentals and Application in Data Storage Devices. Applications of Heated Atomic Force Microscope Cantilevers
Sujets :
Documents associés : Autre format: Applied scanning probe methods IV
Autre format: Applied Scanning Probe Methods IV
Autre format: Applied Scanning Probe Methods IV