Semiconductor material and device characterization

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Auteur principal : Schroder Dieter K (Auteur)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
Édition : 3è éd.
Publié : [Piscataway, NJ], Hoboken, N.J. : IEEE Press , cop. 2006
Wiley
Description matérielle : 1 vol. (xv-779 p.)
Sujets :
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