Nantilus
Semiconductor material and device characterization
| Auteur principal : | |
|---|---|
| Format : | Livre |
| Langue : | anglais |
| Titre complet : | Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
| Édition : | 3è éd. |
| Publié : |
[Piscataway, NJ], Hoboken, N.J. :
IEEE Press
, cop. 2006 Wiley |
| Description matérielle : | 1 vol. (xv-779 p.) |
| Sujets : |
BU Sciences
| | Cote | Prêt | Statut |
|---|---|---|---|
| 1er étage, salle 12 | 621.381 SCH | Empruntable | Disponible |