Affichage MARC: Semiconductor material and device characterization

Détails bibliographiques
Auteur principal :	Schroder Dieter K (Auteur)
Format :	Livre
Langue :	anglais
Titre complet :	Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
Édition :	3è éd.
Publié :	[Piscataway, NJ], Hoboken, N.J. : IEEE Press , cop. 2006 Wiley
Description matérielle :	1 vol. (xv-779 p.)
Sujets :	Semiconducteurs Semiconducteurs > Tests


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