Characterization of semiconductor materials : Principles and methods

Characterization of semiconductor materials : Principles and methods

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Détails bibliographiques
Auteur principal : MacGuire Gary
Format : Livre
Titre complet : Characterization of semiconductor materials : Principles and methods
Publié : Park Ridge, N.J. : Noyes Publications , 1989
Description matérielle : XII-330 p.
Sujets :
Semiconducteurs > Matériaux

BU Sciences

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