Applied logistic regression

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Auteurs principaux : Hosmer David W (Auteur), Lemeshow Stanley (Auteur)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Applied logistic regression / David W. Hosmer,... Stanley Lemeshow,...
Édition : 2nd edition
Publié : New York, Chichester, Weinheim [etc.] : John Wiley & Sons, Inc. A Wiley-Interscience Publication , cop. 2000
Description matérielle : 1 vol. (XII-373 p.)
Collection : Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
Sujets :
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