Caractérisation par spectrométrie de photoélectrons des étapes technologiques de réalisation du transistor bipolaire à hétérojonction GaAlAs/GaAs et en particulier de la gravure ionique réactive du contact ohmique GeMoW sur GaAs
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Main Author : | |
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Format : | Thesis |
Language : | français |
Title statement : | Caractérisation par spectrométrie de photoélectrons des étapes technologiques de réalisation du transistor bipolaire à hétérojonction GaAlAs/GaAs et en particulier de la gravure ionique réactive du contact ohmique GeMoW sur GaAs |
Published : |
1994 |
Physical Description : | 227 f. |
Note de thèse : | Th. : Sci. : Nantes : 1994 ; 2015 F.D. Sc. des matériaux, Spéc. Microélectronique |
Subjects : |
BU Sciences
Location | Call Number | Loan type | Status |
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Magasin aérotherme | 94 NANT 2015 | Empruntable | Available |
Magasin aérotherme | 94 NANT 2015 | Exclu du prêt | Disponible |