Mise au point de matériaux barrières diélectriques de type 1-SiC:H à faible permittivité déposés par PECVD pour réduire la capacité intermétallique dans les interconnexions avancées des circuits intégrés

Avec la diminution des tailles de transistor, les performances des circuits intégrés ne sont plus limitées par les temps de commutation de ces transistors mais par le délai de propagation du signal dans les lignes métalliques qui relient ces transistors entre eux. C est pour réduire ce délai que de...

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Auteur principal : Charles-Alfred Cédric (Auteur)
Collectivités auteurs : Université de Nantes 1962-2021 (Organisme de soutenance), Université de Nantes Faculté des sciences et des techniques (Autre partenaire associé à la thèse), École doctorale Matériaux, Matières, Molécules en Pays de la Loire (3MPL) Le Mans 2008-2021 (Organisme de soutenance)
Autres auteurs : Granier Agnès (Directeur de thèse), Jousseaume Vincent (Directeur de thèse)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : français
Titre complet : Mise au point de matériaux barrières diélectriques de type 1-SiC:H à faible permittivité déposés par PECVD pour réduire la capacité intermétallique dans les interconnexions avancées des circuits intégrés / Cédric Charles-Alfred; sous la direction d'Agnès Granier; co-encadrant Vincent Jousseaume
Publié : [S.l.] : [s.n.] , 2009
Description matérielle : 1 vol. (177 f.)
Note de thèse : Thèse doctorat : Sciences des matériaux, plasma et couches minces : Nantes : 2009
Disponibilité : Publication autorisée par le jury
Sujets :

BU Sciences

Informations d'exemplaires de BU Sciences
Cote Prêt Statut
Magasin aérotherme 2009 NANT 2088 Empruntable Disponible
Magasin aérotherme 2009 NANT 2088 Exclu du prêt disponible