Les fondements des approches fréquentielle et bayésienne : applications à la maîtrise du risque industriel
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| Corporate Author : | |
| Other Authors : | |
| Format : | Book |
| Language : | French |
| Publisher : | Éditions Tec & doc : Lavoisier, DL 2008. |
| Series : | SRD. Série Références
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| Subjects : |
Bu Sciences / 1er étage, salle 12
| Call Number: |
363.11 PRO |
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| Copy 1 (2008) |
Available
Place a Hold
Notes:
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Nantilus

