Rietveld Refinement : Practical Powder Diffraction Pattern Analysis Using TOPAS

Almost 50 years have passed since the famous papers of Hugo Rietveld from the late sixties where he describes a method for the refinement of crystal structures from neutron powder diffraction data. Soon after, the potential of the method for laboratory X-ray powder diffraction was discovered. Althou...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Dinnebier Robert E. (Auteur), Leineweber Andreas (Auteur), Evans John S. O. (Auteur)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Rietveld Refinement : Practical Powder Diffraction Pattern Analysis Using TOPAS / Robert E. Dinnebier, Andreas Leineweber, John S.O. Evans
Publié : Berlin, Boston : De Gruyter , 2019
Collection : De Gruyter STEM
Accès en ligne : Accès Nantes Université
Accès direct soit depuis les campus via le réseau ou le wifi eduroam soit à distance avec un compte @etu.univ-nantes.fr ou @univ-nantes.fr
Note sur l'URL : Attention, l'accès à la ressource est limitée à 3 utilisations simultanées
Sujets :
LEADER 02772nlm a2200517 4500
001 PPN275172996
003 http://www.sudoc.fr/275172996
005 20240131055600.0
010 |a 978-3-1104-6138-1  |b PDF 
010 |a 978-3-1104-6140-4  |b EPUB 
017 7 0 |a 10.1515/9783110461381  |2 DOI 
035 |a (OCoLC)1418995697 
100 |a 20240126h20192019k y0frey0103 ba 
101 0 |a eng  |2 639-2 
102 |a DE 
105 |a a a 001yy 
135 |a ar||#|||m|c|| 
181 |6 z01  |c txt  |2 rdacontent 
181 1 |6 z01  |a i#  |b xxxe## 
182 |6 z01  |c c  |2 rdamedia 
182 1 |6 z01  |a b 
183 |6 z01  |a ceb  |2 RDAfrCarrier 
200 0 |a Rietveld Refinement  |e Practical Powder Diffraction Pattern Analysis Using TOPAS  |f Robert E. Dinnebier, Andreas Leineweber, John S.O. Evans 
214 0 |a Berlin  |a Boston  |c De Gruyter  |d 2019 
225 |a De Gruyter STEM 
230 |a Données textuelles 
320 |a Notes bibliogr. en fin de chapitre. Index 
320 |a Bibliogr. en fin de chapitre. Index 
330 |a Almost 50 years have passed since the famous papers of Hugo Rietveld from the late sixties where he describes a method for the refinement of crystal structures from neutron powder diffraction data. Soon after, the potential of the method for laboratory X-ray powder diffraction was discovered. Although the method is now widely accepted, there are still many pitfalls in the theoretical understanding and in practical daily use. This book closes the gap with a theoretical introduction for each chapter followed by a practical approach. The flexible macro type language of the Topas Rietveld software can be considered as the defacto standard.  |2 4e de couverture 
371 0 |a Accès en ligne sur authentification, réservé aux usagers des établissements qui en ont fait l'acquisition 
410 | |0 250803909  |t De Gruyter STEM 
606 |3 PPN032477201  |a Rietveld, Méthode de  |2 rameau 
606 |3 PPN027576809  |a Cristallographie  |2 rameau 
606 |3 PPN027569276  |a Diffraction  |2 rameau 
606 |3 PPN027480089  |a Rayons X  |x Diffraction  |2 rameau 
606 |3 PPN030014166  |a Électrons de haute énergie  |x Diffraction  |2 rameau 
606 |3 PPN031943217  |a Neutrons  |x Diffraction  |2 rameau 
676 |a 548.83  |v 23 
700 1 |3 PPN124592503  |a Dinnebier  |b Robert E.  |4 070 
701 1 |3 PPN275172562  |a Leineweber  |b Andreas  |4 070 
701 1 |3 PPN260027847  |a Evans  |b John S. O.  |4 070 
801 3 |a FR  |b Abes  |c 20240126  |g AFNOR 
856 4 |5 441099901:809078090  |u https://budistant.univ-nantes.fr/login?url=https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=2018175  |z Attention, l'accès à la ressource est limitée à 3 utilisations simultanées 
979 |a NUM 
930 |5 441099901:809078090  |b 441099901  |j v 
998 |a 955865