1.
, , . Applications et métrologie à l’échelle nanométrique. Londres: ISTE editions; 2024.
, et . Applications et métrologie à l’échelle nanométrique. Londres : ISTE editions, 2 juin 2024. ISBN 978-1-78405-794-7
Dahoo Pierre Richard, Pougnet Philippe, & El Hami Abdelkhalak. (2021). Applications et métrologie à l'échelle nanométrique: 2 systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste. ISTE editions.
Style de citation MLA (8e éd.)Dahoo Pierre Richard, et al. Applications Et Métrologie à L'échelle Nanométrique: 2 Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'optimisation Fiabiliste. ISTE editions, 2021.
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