Applied scanning probe methods : V : Scanning probe microscopy techniques

Applied scanning probe methods : V Scanning probe microscopy techniques

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Bhushan Bharat (Directeur de publication), Fuchs Harald (Directeur de publication), Kawata Satoshi (Directeur de publication)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Applied scanning probe methods. V, Scanning probe microscopy techniques / edited by Bharat Bhushan, Satoshi Kawata, Harald Fuchs.
Édition : 1st ed. 2007.
Publié : Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg , [20..]
Cham : Springer Nature
Collection : Nanoscience and technology (Internet)
Accès en ligne : Accès Nantes Université
Accès direct soit depuis les campus via le réseau ou le wifi eduroam soit à distance avec un compte @etu.univ-nantes.fr ou @univ-nantes.fr
Note sur l'URL : Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Condition d'utilisation et de reproduction : Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales : https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017
Contenu : Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes. Electrostatic Microscanner. Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections. Q-controlled Dynamic Force Microscopy in Air and Liquids. High-Frequency Dynamic Force Microscopy. Torsional Resonance Microscopy and Its Applications. Modeling of Tip-Cantilever Dynamics in Atomic Force Microscopy. Combined Scanning Probe Techniques for In-Situ Electrochemical Imaging at a Nanoscale. New AFM Developments to Study Elasticity and Adhesion at the Nanoscale. Near-Field Raman Spectroscopy and Imaging
Sujets :
Chemistry
Physical Chemistry
Solid State Physics and Spectroscopy
Nanotechnology
Surfaces and Interfaces, Thin Films
Polymer Sciences
Nanotechnology and Microengineering
Spectroscopy and Microscopy
Surface and Interface Science, Thin Films
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