Applied scanning probe methods : II Scanning probe microscopy techniques

The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf?cient to delineate single atoms. At ?rst there were two the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or...

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Bhushan Bharat (Directeur de publication), Fuchs Harald (Directeur de publication)
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Applied scanning probe methods. II, Scanning probe microscopy techniques / edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
Édition : 1st ed. 2006.
Publié : Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg , [20..]
Cham : Springer Nature
Collection : Nanoscience and technology (Internet)
Accès en ligne : Accès Nantes Université
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Condition d'utilisation et de reproduction : Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales : https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017
Contenu : Higher Harmonics in Dynamic Atomic Force Microscopy. Atomic Force Acoustic Microscopy. Scanning Ion Conductance Microscopy. Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy. Dynamic Force Microscopy and Spectroscopy. Sensor Technology for Scanning Probe Microscopy and New Applications. Quantitative Nanomechanical Measurements in Biology. Scanning Microdeformation Microscopy: Subsurface Imaging and Measurement of Elastic Constants at Mesoscopic Scale. Electrostatic Force and Force Gradient Microscopy: Principles, Points of Interest and Application to Characterisation of Semiconductor Materials and Devices. Polarization-Modulation Techniques in Near-Field Optical Microscopy for Imaging of Polarization Anisotropy in Photonic Nanostructures. Focused Ion Beam as a Scanning Probe: Methods and Applications
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