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Microwave electronics : measurement and materials characterisation
Enregistré dans:
| Format : | Livre |
|---|---|
| Langue : | anglais |
| Titre complet : | Microwave electronics : measurement and materials characterisation / L. F. Chen, C. K. Ong and C. P. Neo... [et al.] |
| Publié : |
Chichester :
J. Wiley
, cop. 2004 |
| Description matérielle : | 1 vol. (XIII-537 p.) |
| Accès en ligne : |
Sommaire disponible à l'adresse
|
| Contenu : | Résumé disponible à l'adresse |
| Sujets : |
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