Electron microscopy and analysis

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Détails bibliographiques
Auteur principal : Goodhew Peter John
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
Édition : 3rd ed.
Publié : London, New York : Taylor & Francis , 2000
Description matérielle : x-251 p.
Sujets :
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