ETUDE COMPARATIVE DES PROCEDES DE DEPOT DE COUCHES MINCES PAR PLASMA D'ORGANOSILICIES : TEOS, HMDSO ET HMDSN

CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DE LA FRAGMENTATION DE MOLECULES ORGANOSILICIEES DANS DES PLASMAS BASSE PRESSION (2 MTORR) DE MELANGE OXYGENE/ORGANOSILIE OBTENUS DANS UN REACTEUR HELICON (13,56 MHZ). LES TROIS ORGANOSILICIES RETENUS POUR CETTE ETUDE COMPARATIVE SONT : LE TETRAETHOXYSILANE, L&...

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Auteur principal : Aumaille Karine
Autres auteurs : Granier Agnès (Directeur de thèse)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : français
Titre complet : ETUDE COMPARATIVE DES PROCEDES DE DEPOT DE COUCHES MINCES PAR PLASMA D'ORGANOSILICIES : TEOS, HMDSO ET HMDSN / KARINE AUMAILLE; SOUS LA DIR. DE AGNES GRANIER
Publié : [S.l.] : [s.n.] , 2000
Description matérielle : 215 p.
Note de thèse : Thèse de doctorat : PHYSIQUE : Nantes : 2000
Sujets :
Description
Résumé : CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DE LA FRAGMENTATION DE MOLECULES ORGANOSILICIEES DANS DES PLASMAS BASSE PRESSION (2 MTORR) DE MELANGE OXYGENE/ORGANOSILIE OBTENUS DANS UN REACTEUR HELICON (13,56 MHZ). LES TROIS ORGANOSILICIES RETENUS POUR CETTE ETUDE COMPARATIVE SONT : LE TETRAETHOXYSILANE, L'HEXAMETHYLDISILOXANE ET L'HEXAMETHYLDISILAZANE NOTES, RESPECTIVEMENT, TEOS SI(OC 2H 5) 4, HMDSO (CH 3) 3SIOSI(CH 3) 3 ET HMDSN (CH 3) 3SINHSI(CH 3) 3. DANS LE BUT DE COMPRENDRE LA CINETIQUE DE FRAGMENTATION DES MOLECULES ORGANOSILICIEES, NOUS AVONS ETE AMENES A ETUDIER, PAR SPECTROMETRIE DE MASSE, L'INFLUENCE DE PLUSIEURS PARAMETRES TELS QUE LA PUISSANCE, LA NATURE DU GAZ ADDITIF ET LA FRACTION D'ORGANOSILICIE, SUR LA COMPOSITION IONIQUE ET NEUTRE DU PLASMA. EN PARALLELE, LA SPECTROSCOPIE D'EMISSION OPTIQUE A ETE UTILISEE POUR IDENTIFIER LES ESPECES EXCITEES RADIATIVES DE LA PHASE GAZEUSE. NOUS AVONS AINSI PU COMPARER LES RESULTATS OBTENUS PAR SPECTROMETRIE DE MASSE AVEC CEUX DEDUITS DE LA SPECTROSCOPIE D'EMISSION OPTIQUE. EN PARALLELE A CETTE CARACTERISATION DU PLASMA, LES FILMS ONT ETE ANALYSES AFIN DE COMPRENDRE LA CORRELATION ENTRE LES PARAMETRES DU PROCEDE PLASMA, LA COMPOSITION DU PLASMA ET LA STRUCTURE DES COUCHES DEPOSEES. LES PROPRIETES OPTIQUES (INDICE DE REFRACTION ET COEFFICIENT D'EXTINCTION) ET LA VITESSE DE CROISSANCE DE CES MATERIAUX ONT ETE DETERMINEES PAR ELLIPSOMETRIE SPECTROSCOPIQUE UV-VISIBLE. LA SPECTROSCOPIE D'ABSORPTION INFRAROUGE ET LA SPECTROSCOPIE DE PHOTOELECTRONS X NOUS ONT PERMIS D'OBSERVER LES VARIATIONS DE COMPOSITION DES FILMS SELON LES CONDITIONS D'ETUDE.
Notes : 2000NANT2111
Bibliographie : 100 ref.