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| 073 |
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1 |
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|
| 100 |
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|
| 101 |
0 |
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|
| 102 |
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|
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| 105 |
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| 106 |
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|
| 182 |
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1 |
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|
| 183 |
|
|
|6 z01
|a nga
|2 rdamedia
|
| 200 |
1 |
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|a C2I 2001
|e [actes du colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris
|h Volume 2
|i Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation
|f sous la direction de François Lepoutre, Dominique Placko, Yves Surrel
|
| 210 |
|
|
|a Paris
|c Hermès science publications
|d 2001
|
| 215 |
|
|
|a 1 vol. (595 p.)
|c ill.
|d 24 cm
|
| 300 |
|
|
|a Préface : "En 1998 l'ENS Cachan avait lancé le Colloque Instrumentation et Interdisciplinarité (C2I) [...]. En 2001, L'Institut National de Métrologie du Bureau National de Métrologie organise une deuxième édition de cette manifestion dans le cadre du CNAM [...]"
|
| 302 |
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|
|a Résumés en français et en anglais
|
| 320 |
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|
|a Notes bibliogr.
|
| 517 |
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|
|a Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation
|
| 606 |
|
|
|3 PPN027702839
|a Microtechniques
|2 rameau
|
| 606 |
|
|
|3 PPN027239373
|a Mesure
|x Instruments
|2 rameau
|
| 606 |
|
|
|3 PPN027239403
|a Mesures physiques
|3 PPN027791041
|x Instruments
|2 rameau
|
| 608 |
|
|
|3 PPN02886431X
|a Actes de congrès
|2 rameau
|
| 675 |
|
|
|a 53
|v Éd. 1967
|
| 676 |
|
|
|a 530.7
|v 21
|
| 702 |
|
1 |
|3 PPN057783349
|a Lepoutre
|b François
|4 651
|
| 702 |
|
1 |
|3 PPN057783357
|a Surrel
|b Yves
|f 1956-....
|4 651
|
| 702 |
|
1 |
|3 PPN055770843
|a Placko
|b Dominique
|4 651
|
| 710 |
1 |
2 |
|3 PPN05655270X
|a Colloque interdisciplinaire en instrumentation
|d 2
|f 2001
|e Paris
|4 070
|
| 801 |
|
3 |
|a FR
|b SF
|g AFNOR
|
| 801 |
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1 |
|a US
|b OCLC
|g AACR2
|
| 801 |
|
2 |
|a FR
|b AUROC
|g AFNOR
|
| 801 |
|
3 |
|a FR
|b BN
|g AFNOR
|
| 801 |
|
3 |
|a FR
|b Abes
|c 20200319
|g AFNOR
|
| 930 |
|
|
|5 441092105:702239054
|b 441092105
|j u
|
| 998 |
|
|
|a 29745
|
Nantilus
