C2I 2001 : [actes du colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris : Volume 2 : Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation

C2I 2001 : [actes du colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris Volume 2 Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation

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Détails bibliographiques
Auteur principal : Colloque interdisciplinaire en instrumentation
Collectivité auteur : Colloque interdisciplinaire en instrumentation 2 2001 Paris (Auteur)
Autres auteurs : Lepoutre François (Directeur de publication), Surrel Yves (Directeur de publication), Placko Dominique (Directeur de publication)
Format : Livre
Langue : français
Titre complet : C2I 2001 : [actes du colloque interdisciplinaire en instrumentation], 31 janvier-1er février 2001, Conservatoire national des arts et métiers, Paris. Volume 2, Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation / sous la direction de François Lepoutre, Dominique Placko, Yves Surrel
Publié : Paris : Hermès science publications , 2001
Description matérielle : 1 vol. (595 p.)
Sujets :
Microtechniques
Mesure > Instruments
Mesures physiques > Instruments
Actes de congrès
Description
Variantes de titre : Systèmes et microsystèmes pour la caractérisation
Notes : Préface : "En 1998 l'ENS Cachan avait lancé le Colloque Instrumentation et Interdisciplinarité (C2I) [...]. En 2001, L'Institut National de Métrologie du Bureau National de Métrologie organise une deuxième édition de cette manifestion dans le cadre du CNAM [...]"
Résumés en français et en anglais
Bibliographie : Notes bibliogr.
ISBN : 2-7462-0209-3