CONTRIBUTION A L'ETUDE DES CHAMPS THERMIQUES ET ELECTRIQUES DANS LES LASERS SEMI-CONDUCTEURS : APPLICATION A LA CARACTERISATION ET A L'OPTIMISATION DES DISPOSITIFS A DOUBLE HETEROSTRUCTURE DE TYPE GAALAS/GAAS

CETTE RECHERCHE CONCERNE L'ETUDE MICROTHERMIQUE DES LASERS SEMI-CONDUCTEURS A DISSIPATION THERMIQUE NON UNIFORMEMENT DISTRIBUEE. ELLE PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE MODELES THEORIQUES ET DE METHODES DE CARACTERISATION THERMIQUE SPECIFIQUES. LA MISE AU POINT ET LE DEVELOPPEMENT DE CES METHODES SO...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal : LEPALUDIER VALERIE (Auteur)
Autres auteurs : Bardon Jean-Pierre (Directeur de thèse)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : français
Titre complet : CONTRIBUTION A L'ETUDE DES CHAMPS THERMIQUES ET ELECTRIQUES DANS LES LASERS SEMI-CONDUCTEURS : APPLICATION A LA CARACTERISATION ET A L'OPTIMISATION DES DISPOSITIFS A DOUBLE HETEROSTRUCTURE DE TYPE GAALAS/GAAS / VALERIE LEPALUDIER; SOUS LA DIRECTION DE J.-P. BARDON
Publié : [S.l.] : [s.n.] , 1995
Description matérielle : 149 P.
Note de thèse : Thèse de doctorat : PHYSIQUE : Nantes : 1995
Sujets :
LEADER 04501cam a2200553 i 4500
001 PPN043988202
005 20211111055200.0
029 |a FR  |b 1995NANT2054 
035 |a 072534052 
035 |a thS-00094171 
035 |a TC96-0077440 
035 |a DYNIX_BUNAN_213118 
100 |a 19990313d1995 |||||frey0103 ba 
101 0 |a fre  |d fre 
102 |a FR 
105 |a y m ||||| 
200 1 |a CONTRIBUTION A L'ETUDE DES CHAMPS THERMIQUES ET ELECTRIQUES DANS LES LASERS SEMI-CONDUCTEURS  |e APPLICATION A LA CARACTERISATION ET A L'OPTIMISATION DES DISPOSITIFS A DOUBLE HETEROSTRUCTURE DE TYPE GAALAS/GAAS  |f VALERIE LEPALUDIER  |g SOUS LA DIRECTION DE J.-P. BARDON 
210 |a [S.l.]  |c [s.n.]  |d 1995 
215 |a 149 P. 
300 |a ECN / ISITEM, Nantes 
301 |a 1995NANT2054 
320 |a 43 REF. 
328 0 |b Thèse de doctorat  |c PHYSIQUE  |e Nantes  |d 1995 
330 |a CETTE RECHERCHE CONCERNE L'ETUDE MICROTHERMIQUE DES LASERS SEMI-CONDUCTEURS A DISSIPATION THERMIQUE NON UNIFORMEMENT DISTRIBUEE. ELLE PORTE SUR LE DEVELOPPEMENT DE MODELES THEORIQUES ET DE METHODES DE CARACTERISATION THERMIQUE SPECIFIQUES. LA MISE AU POINT ET LE DEVELOPPEMENT DE CES METHODES SONT REALISES SUR LES LASERS MULTIJONCTIONS A DOUBLE HETEROSTRUCTURE DE TYPE GAALAS/GAAS. UNE MODELISATION DES CHAMPS THERMIQUES, FONDEE SUR L'UTILISATION COMBINEE DE TRANSFORMATIONS INTEGRALES A ETE MISE EN UVRE. ELLE PERMET D'ETUDIER FINEMENT LES PHENOMENES DE CONSTRICTION ET D'ANALYSER LES INTERACTIONS ENTRE LES DIFFERENTES SOURCES DE CHALEUR. L'EXPLOITATION DU MODELE MET EN EVIDENCE LE ROLE DES CARACTERISTIQUES LES PLUS SENSIBLES POUR LES REGIMES THERMIQUES STATIONNAIRE ET INSTATIONNAIRE (QUALITE DU REPORT DU COMPOSANT, METALLISATION DE LA COUCHE DE CONTACT). LE MODELE HYBRIDE A ETE CONFRONTE A UN MODELE AUX ELEMENTS FINIS. UNE METHODE DE MESURE DE TEMPERATURE EST PROPOSEE. ELLE EST FONDEE SUR LA DETECTION, APRES COUPURE DE L'ALIMENTATION DU LASER, DE LA DIFFERENCE DE POTENTIEL ELECTRIQUE DE CONTACT, CONSECUTIVE A L'INJECTION DE FAIBLE COURANT, ET DE SA THERMODEPENDANCE. LA CONTRIBUTION DE L'EFFET THERMOELECTRIQUE EST ANALYSEE FINEMENT AU MOYEN D'UN MODELE DE COUPLAGE BIDIMENSIONNEL. CE TRAVAIL PERMET D'OBTENIR DES EVOLUTIONS DE TEMPERATURE AU COURS DE COMMUTATIONS DE QUELQUES MICROSECONDES A QUELQUES MILLISECONDES. EN OUTRE, L'ANALYSE DES THERMOGRAMMES EXPERIMENTAUX CORRESPONDANT AU REFROIDISSEMENT CONSECUTIF A UNE COUPURE D'ALIMENTATION DE 100 MS PERMET DE DETERMINER LA TEMPERATURE DE JONCTION CORRESPONDANT AU REGIME STATIONNAIRE, AINSI QU'UNE CARACTERISATION THERMIQUE IN-SITU DU COMPOSANT (DIFFUSIVITE THERMIQUE DU SUBSTRAT, RESISTANCE THERMIQUE D'INTERFACE ENTRE LE LASER ET LE PLOT DIFFUSEUR) 
517 | |a CONTRIBUTION TO THERMAL AND ELECTRICAL FIELDS STUDY IN SEMI-CONDUCTORS LASERS: APPLICATION TO THERMAL CHARACTERIZATION AND OPTIMIZATION OF GAALAS/GAAS DOUBLE HETEROSTRUCTURE DEVICES  |z eng 
610 1 |a PHYSIQUE : DOMAINES CLASSIQUES DE LA PHYSIQUE 
610 2 |a LASER SEMICONDUCTEUR/HETEROJONCTION DOUBLE/ALUMINIUM ARSENIURE/NK/GALLIUM ARSENIURE/NK/COMPOSE TERNAIRE/MATERIAU SEMICONDUCTEUR/COMPOSE BINAIRE/COMPORTEMENT THERMIQUE/CHAMP ELECTRIQUE/DISSIPATION THERMIQUE/ETUDE THEORIQUE/MESURE TEMPERATURE/ETUDE EXPERIMENTALE/4255P/PAC 
610 2 |a SEMICONDUCTOR LASERS/DOUBLE HETEROJUNCTION/ALUMINIUM ARSENIDES/NK/GALLIUM ARSENIDES/NK/TERNARY COMPOUNDS/SEMICONDUCTOR MATERIALS/BINARY COMPOUNDS/THERMAL BEHAVIOR/ELECTRIC FIELDS/THERMAL DISSIPATION/THEORETICAL STUDY/TEMPERATURE MEASUREMENT/EXPERIMENTAL STUDY 
686 |a 001.B.40.B.55.P  |2 tlt 
700 1 |a LEPALUDIER  |b VALERIE  |4 070 
702 1 |a Bardon  |b Jean-Pierre  |f 1936-....  |4 727 
801 3 |a FR  |b Abes  |c 20050110  |g AFNOR 
801 3 |a FR  |b Abes  |c 20050110  |g AFNOR 
801 3 |a FR  |b Abes  |c 20050110  |g AFNOR 
915 |5 441092306:179885162  |a 1142018133  |b 1142018133 
915 |5 441092306:179885170  |a -304885  |b -304885 
915 |5 441092104:179885189  |a 1160623629  |b 1160623629 
915 |5 441092104:179885197  |a 1160623636  |b 1160623636 
919 |5 441092306:179885162  |a 1142018133 
919 |5 441092306:179885170  |a -304885 
919 |5 441092104:179885189  |a 1160623629 
919 |5 441092104:179885197  |a 1160623636 
930 |5 441092306:179885162  |b 441092306  |a TH 1541 BIS  |j u 
930 |5 441092306:179885170  |b 441092306  |a TH 1541  |j u 
930 |5 441092104:179885189  |b 441092104  |a 95 NANT 2054  |j u 
930 |5 441092104:179885197  |b 441092104  |a 95 NANT 2054  |j u 
979 |a ECN 
979 |a SCI 
998 |a 170991