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CARACTERISATION DES COUCHES MINCES POLYCRISTALLINES DE SELENIUM DOPE PAR UN HALOGENE (CL, I) ET ETUDE DES INTERFACES METAL-SELENIUM (M = CR, BI, TE)
L'EFFET DU DOPAGE A ETE ANALYSE PAR DIFFRACTION RX, MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE, SPECTROMETRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES, DIFFUSION RAMAN, EMISSION PHOTOELECTRONIQUE RX, EMISSION ELECTRONIQUE AUGER. ON EFFECTUE DES MESURES DE CONDUCTIVITE ELECTRIQUE, D'EFFET HALL ET DE POUVOIR...
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| Format : | Thèse ou mémoire |
| Langue : | français |
| Titre complet : | CARACTERISATION DES COUCHES MINCES POLYCRISTALLINES DE SELENIUM DOPE PAR UN HALOGENE (CL, I) ET ETUDE DES INTERFACES METAL-SELENIUM (M = CR, BI, TE) / GABRIEL SAFOULA; SOUS LA DIRECTION DE GUY GOUREAUX |
| Publié : |
[S.l.] :
[s.n.]
, 1988 |
| Description matérielle : | 160 P. |
| Note de thèse : | DOCTORAT D'ETAT : Physique : Nantes : 1988 |
| Sujets : |
| Résumé : | L'EFFET DU DOPAGE A ETE ANALYSE PAR DIFFRACTION RX, MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE, SPECTROMETRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES, DIFFUSION RAMAN, EMISSION PHOTOELECTRONIQUE RX, EMISSION ELECTRONIQUE AUGER. ON EFFECTUE DES MESURES DE CONDUCTIVITE ELECTRIQUE, D'EFFET HALL ET DE POUVOIR THERMOELECTRIQUE EN FONCTION DE LA TEMPERATURE, DE LA CONCENTRATION INITIALE EN HALOGENE ET DU VIEILLISSEMENT. ON EN DEDUIT QUE, SEULE UNE FRACTION D'HALOGENE, NON UNIFORMEMENT REPARTI, A UN ROLE ELECTRIQUEMENT ACTIF |
|---|---|
| Variantes de titre : | HALOGEN DOPED POLYCRISTALLINE SELENIUM THIN FILM CHARACTERIZATION AND METAL/SELENIUM INTERFACE STUDY (METAL=CR, BI, TE) |
| Notes : | 1988NANT2018 |
| Bibliographie : | 116 REF |