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CARACTERISATION ELECTRIQUE DU SILICIUM AMORPHE HYDROGENE ET DU SELENIUM DOPE AU CHLORE EN COUCHES MINCES
REALISATION D'UN MONTAGE APPLIQUE A LA MESURE DE LA CONDUCTIVITE ET DU POUVOIR THERMOELECTRIQUE D'ECHANTILLONS AYANT UNE RESISTIVITE D'EMISSION 10.**(10) OMEGA A TEMPERATURE AMBIANTE. MESURES SUR LES COMPOSES DU TITRE. ETUDE DE LA COUCHE DE CL-SE PAR ANALYSE RX, MICROSCOPIE ELECTRONIQ...
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| Auteur principal : | |
|---|---|
| Format : | Thèse ou mémoire |
| Langue : | français |
| Titre complet : | CARACTERISATION ELECTRIQUE DU SILICIUM AMORPHE HYDROGENE ET DU SELENIUM DOPE AU CHLORE EN COUCHES MINCES / KOSSI NAPO |
| Publié : |
[S.l.] :
[s.n.]
, 1986 |
| Description matérielle : | 167 P.-17 F. DE PL. |
| Note de thèse : | Thèse de 3e cycle : Physique : Nantes : 1986 |
| Sujets : |
| LEADER | 02288cam a22004811i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | PPN043558453 | ||
| 003 | http://www.sudoc.fr/043558453 | ||
| 005 | 20190408014000.0 | ||
| 029 | |a FR |b 1986NANTA002 | ||
| 035 | |a 072514949 |9 sudoc | ||
| 035 | |a (OCoLC)490215992 | ||
| 035 | |a thS-00047057 | ||
| 035 | |a DYNIX_BUNAN_203562 | ||
| 100 | |a 19990313d1986 |||||frey0103 ba | ||
| 101 | 0 | |a fre |d fre | |
| 102 | |a FR | ||
| 105 | |a y m ||||| | ||
| 181 | |6 z01 |c txt |2 rdacontent | ||
| 181 | 1 | |6 z01 |a i# |b xxxe## | |
| 182 | |6 z01 |c n |2 rdamedia | ||
| 182 | 1 | |6 z01 |a n | |
| 200 | 1 | |a CARACTERISATION ELECTRIQUE DU SILICIUM AMORPHE HYDROGENE ET DU SELENIUM DOPE AU CHLORE EN COUCHES MINCES |f KOSSI NAPO | |
| 210 | |a [S.l.] |c [s.n.] |d 1986 | ||
| 215 | |a 167 P.-17 F. DE PL. |d 30 cm | ||
| 320 | |a 51 REF | ||
| 328 | 0 | |b Thèse de 3e cycle |c Physique |e Nantes |d 1986 | |
| 330 | |a REALISATION D'UN MONTAGE APPLIQUE A LA MESURE DE LA CONDUCTIVITE ET DU POUVOIR THERMOELECTRIQUE D'ECHANTILLONS AYANT UNE RESISTIVITE D'EMISSION 10.**(10) OMEGA A TEMPERATURE AMBIANTE. MESURES SUR LES COMPOSES DU TITRE. ETUDE DE LA COUCHE DE CL-SE PAR ANALYSE RX, MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE, MICROANALYSE IONIQUE, SPECTROMETRIE DE PHOTOELECTRONS ET D'ELECTRONS AUGER | ||
| 541 | | | |a ELECTICAL CHARACTERIZATION OF THIN A-SI:H AND CL-DOPED SCELENIUM FILMS |z eng | |
| 610 | 1 | |a PHYSIQUE : ETAT CONDENSE : PROPRIETES ELECTRIQUES, MAGNETIQUES, OPTIQUES | |
| 610 | 2 | |a CONDUCTIVITE ELECTRIQUE/EFFET HALL/POUVOIR THERMOELECTRIQUE/ETAT AMORPHE/COUCHE MINCE/EMISSION PHOTOELECTRONIQUE/ETUDE EXPERIMENTALE/COMPOSE MINERAL/SELENIUM/SYSTEME HYDROGENE SILICIUM | |
| 610 | 2 | |a ELECTRICAL CONDUCTIVITY/HALL EFFECT/THERMOELECTRIC POWER/AMORPHOUS STATE/THIN FILM/PHOTOELECTRON EMISSION/EXPERIMENTAL STUDY/INORGANIC COMPOUND/SELENIUM | |
| 686 | |a 001.B.70 |2 tlt | ||
| 686 | |a 530 |2 TEF | ||
| 700 | 1 | |3 PPN188385312 |a Napo |b Kossi |4 070 | |
| 801 | 3 | |a FR |b Abes |c 20190405 |g AFNOR |h 072514949 | |
| 979 | |a SCI | ||
| 915 | |5 441092104:179798502 |a 1160618861 |b 1160618861 | ||
| 915 | |5 441092104:179798510 |a 1160618854 |b 1160618854 | ||
| 919 | |5 441092104:179798502 |a 1160618861 | ||
| 919 | |5 441092104:179798510 |a 1160618854 | ||
| 930 | |5 441092104:179798502 |b 441092104 |j u | ||
| 930 | |5 441092104:179798510 |b 441092104 |j u | ||
| 998 | |a 224059 | ||