ETUDE DE COUCHES MINCES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN DEPOSEES PAR LPCVD

ETUDE PAR DIFFRACTION RX ET D'ELECTRONS ET PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DE L'INFLUENCE DE LA TEMPERATURE DE DEPOT SUR LA STRUCTURE DE SI. DETERMINATION DE LA DIMENSION MOYENNE DES GRAINS A PARTIR D'UN TRAITEMENT STATISTIQUE. MESURE DE CETTE DIMENSION EN FONCTION DE LA CONCENTRATION EN...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Karray Fekri (Auteur), Le Bihan Raymond (Directeur de thèse)
Collectivité auteur : Université de Nantes 1962-2021 (Organisme de soutenance)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : français
Titre complet : ETUDE DE COUCHES MINCES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN DEPOSEES PAR LPCVD / FEKRI KARRAY; SOUS LA DIRECTION DE R. LE BIHAN
Publié : [S.l.] : [s.n.] , 1986
Description matérielle : 105 P.
Note de thèse : Thèse de 3e cycle : Physique : Nantes : 1986
Sujets :
Documents associés : Reproduit comme: ETUDE DE COUCHES MINCES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN DEPOSEES PAR LPCVD
Particularités de l'exemplaire : BU Sciences, Ex. 1 :
Titre temporairement indisponible à la communication

LEADER 02851cam a2200529 4500
001 PPN043535976
003 http://www.sudoc.fr/043535976
005 20240829055200.0
029 |a FR  |b 1986NANT2013 
035 |a (OCoLC)490198660 
035 |a thS-00044560 
035 |a DYNIX_BUNAN_204236 
100 |a 19990313d1986 |||||frey0103 ba 
101 0 |a fre  |d fre  |2 639-2 
102 |a FR 
105 |a ||||m ||||| 
181 |6 z01  |c txt  |2 rdacontent 
181 1 |6 z01  |a i#  |b xxxe## 
182 |6 z01  |c n  |2 rdamedia 
182 1 |6 z01  |a n 
183 |6 z01  |a nga  |2 RDAfrCarrier 
200 1 |a ETUDE DE COUCHES MINCES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN DEPOSEES PAR LPCVD  |f FEKRI KARRAY  |g SOUS LA DIRECTION DE R. LE BIHAN 
210 |a [S.l.]  |c [s.n.]  |d 1986 
215 |a 105 P.  |d 30 cm 
300 |a Matra-Harris Semiconducteurs, Nantes 
316 |5 441092104:17980586X  |a Titre temporairement indisponible à la communication 
320 |a 43 REF 
328 0 |b Thèse de 3e cycle  |c Physique  |e Nantes  |d 1986 
330 |a ETUDE PAR DIFFRACTION RX ET D'ELECTRONS ET PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DE L'INFLUENCE DE LA TEMPERATURE DE DEPOT SUR LA STRUCTURE DE SI. DETERMINATION DE LA DIMENSION MOYENNE DES GRAINS A PARTIR D'UN TRAITEMENT STATISTIQUE. MESURE DE CETTE DIMENSION EN FONCTION DE LA CONCENTRATION EN DOPANT, DE LA TEMPERATURE DE DEPOT, DE LA POSITION DES WAFERS DANS LE FOUR. CARACTERISATION ELECTRIQUE 
456 | |0 259512281  |t ETUDE DE COUCHES MINCES DE SILICIUM POLYCRISTALLIN DEPOSEES PAR LPCVD  |f Fekri Karray  |d 1986  |c Grenoble  |n Atelier national de reproduction des thèses  |p Microfiches  |s Grenoble-thèses 
541 | |a STUDY OF POLYSILICON FILMS DEPOSITED BY LPCVD  |z eng 
608 |3 PPN027253139  |a Thèses et écrits académiques  |2 rameau 
610 1 |a PHYSIQUE : ETAT CONDENSE : PROPRIETES MECANIQUES ET THERMIQUES 
610 2 |a NON METAL/POLYCRISTAL/COUCHE MINCE/CROISSANCE CRISTALLINE/DEPOT CHIMIQUE PHASE VAPEUR/BASSE PRESSION/MICROSTRUCTURE/GROSSEUR GRAIN/DIFFRACTION RX/DIFFRACTION ELECTRON/MICROSCOPIE ELECTRONIQUE TRANSMISSION/ETUDE EXPERIMENTALE/SILICIUM 
610 2 |a NON METAL/POLYCRYSTAL/THIN FILM/CRYSTAL GROWTH/CHEMICAL VAPOR DEPOSITION/LOW PRESSURE/MICROSTRUCTURE/GRAIN SIZE/X RAY DIFFRACTION/ELECTRON DIFFRACTION/TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY/EXPERIMENTAL STUDY/SILICON 
686 |a 001.B.60  |2 tlt 
686 |a 530  |2 TEF 
700 1 |3 PPN031228984  |a Karray  |b Fekri  |f 1955-....  |4 070 
701 1 |3 PPN075610507  |a Le Bihan  |b Raymond  |4 727 
711 0 2 |3 PPN026403447  |a Université de Nantes  |c 1962-2021  |4 295 
801 3 |a FR  |b Abes  |c 20231217  |g AFNOR 
979 |a SCI 
915 |5 441092104:17980586X  |a 1160619271  |b 1160619271 
919 |5 441092104:17980586X  |a 1160619271 
930 |5 441092104:17980586X  |b 441092104  |j g 
991 |5 441092104:17980586X  |a Exemplaire modifié automatiquement le 18-07-2024 18:01 
998 |a 224521