Semiconductor material and device characterization

Semiconductor material and device characterization

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Détails bibliographiques
Auteur principal : Schroder Dieter K
Format : Livre
Langue : anglais
Titre complet : Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
Publié : New York : Wiley , c1990
Description matérielle : xv, 599 p.
Sujets :
Semiconducteurs
Description
Notes : "A Wiley-Interscience publication."
Bibliographie : Includes bibliographical references and index.
ISBN : 0-471-51104-8